激光粒度儀和顆粒圖像儀有什么區(qū)別？
 

　　粒度儀可分為納米粒度儀，激光粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。
 

　　粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測(cè)試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器、電阻式顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。
 

　　粒度儀分類介紹：
 

　　激光粒度儀
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀，假設(shè)被測(cè)顆粒為標(biāo)準(zhǔn)球形，無法測(cè)量顆粒形貌，多為離線粒度儀。
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會(huì)聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數(shù)據(jù)處理軟件組成，可檢測(cè)顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個(gè)波段。
 

　　其測(cè)試顆粒大小及分布時(shí)采用的分散系統(tǒng)根據(jù)不同的測(cè)試要求分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)。
 

　　當(dāng)光線照射到顆粒上時(shí)會(huì)發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強(qiáng)度均與粒子的大小有關(guān)。觀測(cè)其光強(qiáng)度，可應(yīng)用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進(jìn)行計(jì)算。光入射到球形粒子時(shí)可產(chǎn)生三類光：一類，在粒子表面、通過粒子內(nèi)部、經(jīng)粒子內(nèi)表面的反射光；第二類，通過粒子內(nèi)部而折射出的光；第三類，在表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無關(guān)，全都可以作為光散射處理。
 

　　一般地，光散射現(xiàn)象可以用經(jīng)Maxwell電磁方程式嚴(yán)密解出的Mie散射理論說明。但是，實(shí)際使用起來過于復(fù)雜，為了求得實(shí)際的光強(qiáng)度，可根據(jù)入射波長λ和粒子半徑r的關(guān)系，即：rλ時(shí)，F(xiàn)raunhofer衍射理論。在使用上述理論時(shí)，應(yīng)考慮到光的波長和粒徑的關(guān)系，在不同的領(lǐng)域使用不同的理論。
 

　　粒徑大于波長的時(shí)候，由Fraunhofer衍射理論求得的衍射光強(qiáng)度和Mie散射理論求得的散射光強(qiáng)度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似處理。這時(shí)，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強(qiáng)度與粒子徑的大小有關(guān)，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強(qiáng)度譜，解出粒子的光強(qiáng)度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當(dāng)波長和粒子徑很接近的時(shí)候，不能用Fraunhofer的近似式來表示散射強(qiáng)度。這時(shí)有必要根據(jù)Mie散射理論作進(jìn)一步討論。在Mie散射中的散射光強(qiáng)度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質(zhì)的相對(duì)折射率來確定。
 

　　顆粒圖像儀：
 

　　對(duì)顆粒拍照后將圖片分析處理，可以測(cè)量顆粒形貌，通過此方法可實(shí)現(xiàn)原位實(shí)時(shí)在線測(cè)量。
 

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法。
 

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機(jī)，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算，并可以將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告。
 

　　動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。